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Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數分析儀

Tektronix 泰克

Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數分析儀產品介紹:

產品型號:Keithley 4200A-SCS
產品品牌:Tektronix 泰克
產品類別:分析儀
產品備注:參數分析儀

Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數分析儀產品特點:

使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 最高性能參數分析儀,提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數分析儀產品優勢:

大膽發現從未如此簡單。 4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%,提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外,嵌入式測量專業知識(業界首創)可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。

特點

  • 內置英語,中文,日語和韓語版本的測量視頻
  • 使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試
  • 自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數

測量、 切換、 重復。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設置,并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。

特點

  • 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
  • 用戶可配置低電流功能
  • 個性化輸出通道名稱
  • 查看實時測試狀態

穩定的低電流測量,適用于 I-V 檢定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統中實現穩定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇,可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊,Keithley 可確保您獲得最準確的低電流測量,而停機時間很少甚至沒有。

特點

  • 不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
  • 進行 飛安測量
  • 多達 9 個 SMU 通道
  • 針對長電纜或大卡盤進行了優化

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。

4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點

  • “點擊”測試定序
  • “手動”探測器模式測試探測器功能
  • 假探測器模式無需移除命令即可實現調試

降低成本并保護您的投資

吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質量的服務。 只需點擊一下或撥打一個電話即可獲得維修服務,在此過程中,無需報價或填寫采購單,也不會有審批延誤。

 

Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數分析儀產品應用:

半導體可靠性

在執行復雜的可靠性測試時,4200A-SCS 可以幫您處理復雜的工作。包括諸如熱載流子注入降解 (HCI) 和負偏置溫度不穩定性 (NBTI) 之類的項目,可幫助您快速進行器件分析。對于大型實驗室,4200-BTI 套件隨附支持網站地圖繪制和自動探測器控制功能的 Keithley ACS 軟件。

特點

  • 只需一組測試,即可滿足您的直流 I-V、C-V 和脈沖測量需求
  • 支持多種探頭站和外部儀器
  • 循環系統易于使用,允許在無需編碼的情況下重復測試

提供適合高阻抗應用的 C-V 測量功能

采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術分析高電阻樣本的電容。 該技術可通過僅使用源測量單元 (SMU) 儀器實現應用,同時可與 4210-CVU 結合使用,執行更高頻率測量。

特點

  • .01 ~ 10 Hz 頻率范圍,1 pF ~ 10 nF 靈敏度
  • 3? 位典型分辨率,最小典型值 10 fF

非易失內存

通過全面脈沖 I-V 檢定在測試中利用新技術。 4200A-SCS 為最新 NVRAM 技術提供支持和即用型測試,從浮動門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM,不一而足。 電流和電壓雙源和測量功能同時支持瞬態和 I-V 域檢定。

使用長電纜或電容式夾具時進行測試

當測試需要非常長的電纜或具有較高電容的夾具時,請使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測試站、探測器、開關矩陣或任何其他大型或復雜的測試儀。現場可安裝版本使您無需將設備返回服務中心即可增加容量。

納米級設備檢定

4200A-SCS 的集成儀器功能可簡化碳納米管等納米級電子器件開發方面的測量要求。 從預配置測試項目開始著手,逐步擴大您的研究工作范圍。 SMU 的脈沖源模式可幫助緩解過熱問題,數秒內即可完成與低電壓 C-V 和超快速脈沖直流測量的組合。

材料電阻率

使用集成了 SMU 的 4200A-SCS,可通過四點同軸探頭或范德堡法輕松測量電阻率。 內含測試可自動重復執行范德堡計算,節省您寶貴的研究時間。 10aA 的最大電流分辨率和大于 10----16 歐姆的輸入阻抗可提供更準確和精準的結果。

MOSFET 檢定

4200A-SCS 可容納所有必要的儀器,用于通過組件或晶圓測試執行全面的 MOS 設備檢定。 內含測試和項目可以解決 MOSCap 的氧化物厚度、門限電壓、摻雜濃度、移動離子濃度等問題。 只需觸摸一個儀器盒中的按鈕,即可運行所有這些測試。

技術參數

直流電流-電壓
(I-V) 范圍
10 aA – 1A
0.2 μV – 210 V

電容-電壓
(C-V) 范圍
1 kHz – 10 MHz
± 30V 直流偏置

脈沖 I-V
范圍
±40 V (80 V p-p),±800 mA
200 MSa/s,5 ns 采樣率

 



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